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  • 馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上,進一步優化性能,增加了多項智能輔助功能,讓設備更易用,結果的確信度更高。

  • 馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...

  • 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...

  • Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...

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公司簡介

馬爾文帕納科用服務贏得口碑,以品質樹立品牌

使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩定性、元素濃度、晶體結構,元素及物相等參數。這些信息對于預測產品在使用過程中的表現、優化其性能,從而實現高效制造至關重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線,GPC等設備的專業實驗室,完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務與優...

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  • 20246-7
    納米粒度電位儀的精準測量能力及其優勢

    納米粒度電位儀在科學研究及工業應用中以其精準的測量能力和多方面的優勢脫穎而出。以下是對其精準測量能力及其優勢的詳細解析:精準的粒度測量:納米粒度電位儀能夠測量納米級顆粒的大小范圍,通常從幾納米到幾百納米不等。其高精度的測量能力,結合先進的激光散射技術,確保了納米級顆粒大小的精確測定,滿足了各種納米材料尺寸測量的需求。高靈敏度的Zeta電位測量:除了粒度測量外,納米粒度電位儀還具有測量顆粒表面Zeta電位的功能。其Zeta電位測量范圍可達-600mV至+600mV,具有高靈敏度...

  • 20246-7
    X射線熒光光譜儀竟然能應用于如此之多的領域

    X射線熒光光譜儀是一種廣泛應用于材料分析和質量控制領域的儀器。它利用樣品受到X射線激發后所發射的熒光X射線的特征能量,來分析樣品的成分和元素含量。其工作原理基于X射線的特性和樣品的熒光發射。當樣品受到高能X射線的激發時,樣品中的原子會吸收X射線的能量,并在吸收后重新排列電子結構。在這個過程中,樣品會發射出特定能量的熒光X射線。通過測量和分析這些熒光X射線的能量和強度,可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀的應用范圍:1、環境監測:在環境保護領域,XRF被廣泛用于監測...

  • 20245-31
    納米顆粒跟蹤分析儀具備多項關鍵功能

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠實時監測納米顆粒動態行為的儀器。該技術被廣泛應用于納米材料研究、生物醫學、環境科學等領域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運動,并通過圖像處理技術對顆粒的位置進行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預熱、樣品注入、數據采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數據采集后,可通過分析軟件對數據進行處理,如計算平均直徑...

  • 20245-29
    新品解析三部曲(三)Mastersizer 3000+ 優化方法開發輕松實現流程標準化

    本文摘要對于激光衍射測量技術來說,方法開發的優化,對結果的可靠性至關重要。但是我們中有多少人能夠確保每個標準操作程序(SOP)都盡善盡美?Mastersizer3000+的SOPArchitect功能,能從各個維度為方法開發提供指導,降低偏離最佳方案的風險。這使得標準方法的建立更加可靠、不易出錯,并大大減少監管的時間。消除方法開發中的錯誤粒度檢測方法開發的過程中,面對一種新的樣品類型,無法快速確定各類參數的正確設置和測量方法的適用性,通過查閱資料尋求解決方案,又需要花費大量的...

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